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作为类石墨烯材料,二硫化钼(Mo S2)具有同石墨烯一样优良的光、电、机械性能,同时,二硫化钼具有随厚度变化可调节的禁带宽度,从而在下一代晶体管、纳米电子学、自旋电子学等领域得到很多研究者的广泛关注[1]。本文以实验的方法,利用拉曼散射技术对少层二硫化钼样品进行测量。分析了层厚、衬底有无以及温度变化对拉曼峰频率的影响,并且通过拉曼光谱法估计二硫化钼的热应力。对二硫化钼的应用有重要意义。