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磁场测量精度是制约磁探测电阻抗成像(magnetic detectionelectrical impedance tomography，MDEIT)应用的关键。本文提出了一种新型磁场检测电路，将比例测量法、过采样和数字锁相放大(Digital Lock—in Amplifier，DLIA)三种方法相结合，并且设计了磁场检测系统。通过磁场测量实验表明此检测方法提高了信号的信噪比，减小了测量误差，为MDEIT成像系统提供了可靠的硬件基础，具有极大的应用价值。