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为了研究方位电阻率成像仪的定量解释方法，作者开发了一套能模拟方位电阻率成像仪在三维非均匀地层模型中响应的三维有限元程序。在简化的地层模型中，将该程序与方法手二维有限差分方法进行了对比，结果表明此程序的误差不超过5℅。在此程序得到验证后，作者用该程考查了方位电阻率成像仪在一些典型三维非均匀地层模型中的响应，结果表明此程序能为立位电阻率成像仪的定量解释提供支持。