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基于双折射偏振干涉的高光谱成像方法

来源 :第十六届全国光学测试学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：hanjingcj520

【作 者】

：

柏财勋 李建欣 沈燕 

【机 构】

：

南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏南京210094

【出 处】

：

第十六届全国光学测试学术交流会

【发表日期】

：

2016年7期

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