房间隔缺损封堵器迟发性脱落的外科治疗体会

来源 :中华医学会第七次全国胸心血管外科学术会议暨2007中华医学会胸心 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zxz66329
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随着微电子技术的迅速发展,VLSI的集成度和复杂度不断提高,给现有的测试技术和测试仪器带来了严峻的挑战。20世纪80年代初,人们提出了通过测量电路稳态电流(IDDQ)来测试CMOS电路的方法。基于电流的IDDQ测试方法与CMOS电路有很好的兼容性,它可检测出电压测试方法不能检测的故障和物理缺陷,目前已成为一种广为接受的重要的CMOS数字集成电路的测试方法。90年代中期,人们提出了瞬态电流测试方法(
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