【摘 要】
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本文介绍了带弧线扫描的材料负折射率三维探测系统的设计。该系统通过数据采集卡实现计算机对电移台和旋转台的扫描控制,在以光子晶体样品为圆心的圆弧上,对折射光的空间光强
【出 处】
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中国仪器仪表学会第九届青年学术会议
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本文介绍了带弧线扫描的材料负折射率三维探测系统的设计。该系统通过数据采集卡实现计算机对电移台和旋转台的扫描控制,在以光子晶体样品为圆心的圆弧上,对折射光的空间光强分布进行实时采集,根据扫描记录计算出折射角的大小,从而判断是否产生材料负折射率现象；与直线扫描相比,沿圆周的弧线扫描消除了探测器距离样品距离不同造成的光强衰减差别,折射角的计算也更加简便,因而更加可靠和准确。
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