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直接从EDX谱图得到浓度值--一种通用校准概念的新算法
直接从EDX谱图得到浓度值--一种通用校准概念的新算法
来源 :全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bolinyuan
【摘 要】
:
在XRFS中的"无标样分析"用有常规算法都是基于使用反映样品物理特性和激发条件的基本参数,考虑了基体效应之后首先计算理论强度,从而计算样品中被分析物的浓度.
【作 者】
:
Kai Behrens
Arnd Bühler
YING Xiao-hu
LI Zhong-shan
【机 构】
:
德国布鲁克AXS有限公司,(O)stlicheRheinbrückenstraβe49,76187Karlsruhe,Germany德国布鲁克AXS有限公司北京代表处
【出 处】
:
全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会
【发表日期】
:
2005年10期
【关键词】
:
XRFS
EDX谱图
通用校准概念
无标样分析
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在XRFS中的"无标样分析"用有常规算法都是基于使用反映样品物理特性和激发条件的基本参数,考虑了基体效应之后首先计算理论强度,从而计算样品中被分析物的浓度.
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