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在早期的CCD应用中，CCD往往采用通过输出脉冲计数方法来测量，实现一个像素的测量精度。但随着CCD广泛使用，传统的测量方法已经无法满足CCD高精度的测量，CCD像素级提取已经不能满足实际测量的需要。本文根据线阵CCD的工作原理，提出了边缘检测方法和数值量化法两大类细分的方法，并做了比较。