【摘 要】
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基于蓝光LED芯片和荧光粉制备白光LED的技术已经成为半导体白光照明非常重要的技术路线，并实现了商业化。芯片与荧光粉的匹配优劣是影响白光L ED性能的重要因素；针对这一问题，本文提出了LED荧光粉的性能表征与测量方法。采用了一种双分光式荧光粉测量系统，得到了荧光粉在单色波长激发下的量子效率；通过与蓝光LED芯片光谱加权积分，得到了蓝光LED芯片激发的白光LED光谱、光度及色度性能参数。实验结果表明
【机 构】
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浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州 310027 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙
【出 处】
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第十一届全国LED产业与技术研讨会
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基于蓝光LED芯片和荧光粉制备白光LED的技术已经成为半导体白光照明非常重要的技术路线，并实现了商业化。芯片与荧光粉的匹配优劣是影响白光L ED性能的重要因素；针对这一问题，本文提出了LED荧光粉的性能表征与测量方法。采用了一种双分光式荧光粉测量系统，得到了荧光粉在单色波长激发下的量子效率；通过与蓝光LED芯片光谱加权积分，得到了蓝光LED芯片激发的白光LED光谱、光度及色度性能参数。实验结果表明，通过荧光粉光谱激发量子效率，可以有效地评价LED芯片激发的白光LED荧光粉的光学性能。
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