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光纤表面粗糙度比较测量仪的研究
光纤表面粗糙度比较测量仪的研究
来源 :计量仪器新发展学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zqzhang_1011
【摘 要】
:
简单论述根据光散射理论研制的光纤表面粗糙度测量传感器的结构特点,介绍了利用这种新型光纤传感器构成的光纤型表面粗糙度比较测量仪的结构原理和技术性能。仪器的测量范围为
【作 者】
:
包学诚
陈雅贞
杜建海
【机 构】
:
上海交通大学
【出 处】
:
计量仪器新发展学术讨论会
【发表日期】
:
1986年期
【关键词】
:
光纤传感器
表面粗糙度
测量传感器
重复精度
散射理论
结构原理
结构特点
简单论述
技术性能
测量精度
测量范围
光纤型
测量仪
仪器
构成
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简单论述根据光散射理论研制的光纤表面粗糙度测量传感器的结构特点,介绍了利用这种新型光纤传感器构成的光纤型表面粗糙度比较测量仪的结构原理和技术性能。仪器的测量范围为Ra0.02~0.80,测量精度为20℅,重复精度为5℅。(本刊录)
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