Characterization of Millimeter-wave Active and Passive Components Embedded in Test Fixtures

来源 :2013年全国天线年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:luiyun
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  The performance of millimeter wave active and passive components is sensitive to the discontinuities associated with the test fixtures.In order to accurately characterize the device-under-test (DUT) and obtain the DUT only performance, the fixture effects must be removed from the overall measurement.Such process is generally referred to as de-embedding.In this work, different de-embedding methods are reviewed and two of these namely the through-reflect-line (TRL) and the through-line (TL) are employed to de-embed an, edge-coupled band-pass filter (BPF) and a low noise amplifier (LNA) both operating at ka band.The two DUTs along with the TRL kit are realized on a substrate with dielectric constant of 6.2.The measured results obtained from the two methods are presented.
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