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圆锥自旋序导致多铁态的失措调制
【机 构】
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东南大学物理系,南京,211189
【出 处】
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中国物理学会2011年秋季学术会议
【发表日期】
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2011年9期
其他文献
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采用传统陶瓷烧结方法,制备了Ca(1-x)Ce0.5xCu3Ti4O12(x=0,0.1,0.25,0.5,1)陶瓷,利用X 射线衍射仪,测定了材料的物相结构,利用扫描电镜测定了材料的微观形貌,利用阻抗分析仪测定了不同频率下材料的介电常数和介电损耗,研究了CeO2 对CCTO 材料的微观结构和介电性能的影响.
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会议
讨论了CaCu3-xFexTi4O12 (x=0,0.015,0.03,0.045,0.06,0.09)系列陶瓷样品中Fe 的掺入量(x)对样品室温介电常数、介电损耗、复阻抗以及漏电流等电学性能的影响.结果显示,未掺Fe 样品的室温介电常数大于104,Cu 位掺Fe 可以导致介电常数发生显著的下降,当掺铁量x 超过0.015 时,样品介电常数比未掺铁样品降低了2 个数量级.