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本文对X-ray荧光光谱法中卢卡斯—图恩方程的普莱士方法和派恩方法进行了推导.就两种方法的基本含义和应用局限进行了讨论,认为两种方法都要求样品的基体一致,都没有样品结构校正项出现,参与校正量分别是共存元素的百分含量和X-ray荧光强度.并举两个实际应用进一步说明两种方法的适用性.
卢卡斯-图恩方程在X-ray荧光光谱分析中的应用
【摘 要】
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本文对X-ray荧光光谱法中卢卡斯—图恩方程的普莱士方法和派恩方法进行了推导.就两种方法的基本含义和应用局限进行了讨论,认为两种方法都要求样品的基体一致,都没有样品结构
【机 构】
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金川集团有限公司培训中心,甘肃金昌737100金川集团有限公司检测中心,甘肃金昌737100
【出 处】
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2013年北京光谱年会
【发表日期】
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2014年1期
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