【摘 要】
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镀金材料按照不同腐蚀测试标准测得的微孔率有显著差异，分析造成这种差异的机制有助于提高电连接器镀金层微孔率测试的准确性。本文参照ASTM标准和JIS标准，改变腐蚀时间长度，对不同厚度镀金材料进行SO2气体腐蚀试验，并测试了镀金样品的微孔率。利用体视显微镜、扫描电镜分析样品表面形貌，利用能谱分析腐蚀物成分，采用精密定位系统测试了镀金材料的接触电阻。经过腐蚀后，镀金样品表面存在不同大小的圈状腐蚀物，随着
【机 构】
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北京邮电大学电接触科研室 北京 100876
【出 处】
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2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议
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镀金材料按照不同腐蚀测试标准测得的微孔率有显著差异，分析造成这种差异的机制有助于提高电连接器镀金层微孔率测试的准确性。
本文参照ASTM标准和JIS标准，改变腐蚀时间长度，对不同厚度镀金材料进行SO2气体腐蚀试验，并测试了镀金样品的微孔率。利用体视显微镜、扫描电镜分析样品表面形貌，利用能谱分析腐蚀物成分，采用精密定位系统测试了镀金材料的接触电阻。经过腐蚀后，镀金样品表面存在不同大小的圈状腐蚀物，随着镀金层厚度的增加，微孔率逐渐减小。圈状腐蚀物的静态接触电阻接近2000mΩ，随着压力增大接触电阻逐渐降低。通过对不同标准试验的腐蚀机制差异的分析，可以确定影响微孔率统计结果的因素及影响机制，对于连接器镀金层微孔率测试和电接触可靠性分析都有着重要意义。
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