注意缺陷多动障碍是儿童期最常见的心理卫生问题之一，可影响3[％]-5[％]的学龄儿童，且男孩发病更为多见，主要表现为额叶皮层功能受损。事件相关电位是在特定的感觉性刺激下，从头顶记录的一种特殊皮层诱发电位，也就是大脑对刺激信息进行认知加工过程中产生的皮层电位，反映受试者从接受刺激到加工、处理以及反应的认识过程，是注意、感知、判断、记忆和思维的总和，且不受刺激的物理性质的影响。其中P300是事件相关电位中应用最多，研究最广泛的内源性成分。以往曾有报道注意缺陷多动障碍儿童的P300潜伏期延长，正确率减少，错误率增加，反应时间延长，但迄今对不同亚型注意缺陷多动障碍童的事件相关电位报道还较少。本研究针对不同亚型注意缺陷多动障碍与正常儿童比较，以探讨不同亚型注意缺陷多动障碍儿童的事件相关电位的反应特征及其差异。