【摘 要】
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采用人工配制系列标准样,硼酸镶边垫底粉末压片方法制样,建立X射线荧光光谱法测定SrCO3产品中锶钙钡镁含量的定量分析曲线,测量碳酸锶产品中的Sr、Ba、Ca、Mg等组分.由于SrCO3产品中锶含量极高,按照仪器给定的测量条件进行测量会产生计数率饱和溢出现象,文章对锶的分析条件通过降低测定功率以降低计数率来达到测量目的.同时也对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论.使用经验a系数法校正基
【机 构】
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中国科学院青海盐湖研究所,青海西宁810008;中国科学院研究生院,北京100049 中国科学院青
【出 处】
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帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会
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采用人工配制系列标准样,硼酸镶边垫底粉末压片方法制样,建立X射线荧光光谱法测定SrCO3产品中锶钙钡镁含量的定量分析曲线,测量碳酸锶产品中的Sr、Ba、Ca、Mg等组分.由于SrCO3产品中锶含量极高,按照仪器给定的测量条件进行测量会产生计数率饱和溢出现象,文章对锶的分析条件通过降低测定功率以降低计数率来达到测量目的.同时也对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论.使用经验a系数法校正基体效应.经对配制的合成样进行检验,测量值与标准值结果吻合.方法的检出限和准确度均满足分析要求,方法的RSD分别为Sr 0.029％;Ba 0.17％;Ca 0.89％;Mg 0.20％.
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本文首先分析了分子比分析在铝电解生产中的意义，其次介绍了直接法、间接法这两种分子比测定方法，然后介绍了各国的分子比表示方法，最后指出CubiXXRD铝电解质X射线法分子比测定仪在本公司的成功应用。
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采用混合熔剂熔融制样,用Epsilon5高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪对土壤、水系沉积物和岩石样品中的Na、Mg 、Al、Si、P、S、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、Br、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Cs、Ba、Hf、Ta、W、Tl、Pb、Bi、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、
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