在新一代特种光纤中,对GeO2的掺杂量有非常高的要求,如弯曲不敏感光纤、G.655光纤和传感类光纤等.一般来说,在掺杂量不太高时,掺GeO2的折射率在拉伸过程中表现不敏感,但是在高掺杂量时,掺GeO2的折射率在拉伸过程中变化较大.在这个过程中,加热和拉伸对芯棒内应力的相互作用,使芯棒的折射率与应力的变化呈现出相互关系.本文是对高掺Ge芯棒在拉伸过程中的性能变化进行了实验和分析,实验结果发现,芯层的折射率随拉伸次数的增加和芯棒外径减小而不断增大,包层折射率变化不是很明显,但也有增大趋势.其内部的应力随着拉伸次数的增加和外径的减小是越来越小的.对实验结果进行分析,高掺Ge芯棒内部的应力主要是张应力,而且主要集中在芯包界面,这些应力可以在拉伸过程中减少或消失.这说明折射率的变化主要是由于应力影响导致的测试误差,随着拉伸次数的增加和拉伸外径的减小,其内部应力也越来越小,所测得的折射率越接近真实值,并可以通过对其测试折射率的变化计算出芯棒内部应力的变化.但芯棒的芯层始终存在一定的应力,这是因为掺杂所导致的,这种应力属于永久性应力,无法在拉伸过程中消除.