【摘 要】
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用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度，并以此计算样品中的空隙体积分数关系。将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较，表明了用标样法得到的结果更
【机 构】
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中国科学院上海应用物理研究所,上海201204兰州大学物理科学与技术学院,兰州,730000
【出 处】
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第十二届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
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用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度，并以此计算样品中的空隙体积分数关系。将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较，表明了用标样法得到的结果更加接近于氮气吸附法测量得到的结果，因而间接地表明了标样法要比衰减法测得的小角散射绝对强度更加可靠。文中进一步讨论了这两种方法的特点以及误差产生的原因。该实验结果和讨论将有助于进一步加深对这两种绝对强度测试方法的理解，并在实验中选择合适的测量方法。
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