i-Si层厚度对Si/SiC异质结光电特性的影响

来源 :第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xybcn960
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用LPCVD法在n型6H-SiC(0001)面(Si面)上异质沉积了Si薄膜,通过控制B2H6的流量实现Si薄膜的低掺杂和重掺杂.做成了Si/6H-SiC异质结pin二极管。I-V测试表明:该异质结具有较好的整流性,其转折电压在1V左右,当反向电压为4V时,反向漏电流为0.35A/cm2。在0.2W/cm2的光照下对样品的光电流测试发现:随着i-Si层厚度的增加.光电流先增大而后减小,即存在一个最优i-Si层厚度。多次试验证实:当i层厚度约为1.17μm时,光电流最大,其值为100mA/cm2。
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