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价值分析在产品可靠性设计中的应用
【机 构】
:
成都无线电3厂
【出 处】
:
中国电子学会可靠性分会第七届学术年会
【发表日期】
:
1994年期
其他文献
该报告从工程实际需要出发,介绍电子设备在研制中失效率下降(MTBF增长)的评定方法并提出了增长评定方程式。该评定方法的特点是充分利用各研制阶段样机的寿命试验和各种现场试验