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电光检测是太赫兹检测方法中的一种，本文以闪锌矿结构的ZnTe(110)为检测晶体，发现影响这种方法的因素主要有两个，一个是太赫兹辐射与探测光的速度不匹配，另一个是晶体晶向和太赫兹辐射与探测光偏振方向的夹角。通过理论研究得出ZnTe作为探测晶体适宜的厚度为500～1000 μm，适宜的品向为(110)，太赫兹辐射和探测光偏振方向的夹角最佳值为90°和0°。