4英寸P/P+高阻厚层硅外延片电阻率的精确控制

来源 :第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:a9249228
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文讨论了影响P/P<+>高阻厚层硅外延片外延层电阻率稳定控制的主要因素,采取立式常压外延,利用背面封闭技术,充分抑制了高温状态下低阻重掺硼衬底的杂质自掺杂效应,使得外延层电阻率得到精确的控制.该技术已成功地应用到4英寸P/P<+>高阻厚层硅外延片的生产中,外延片电阻率大于50欧姆厘米,厚度大于40微米.
其他文献
破坏性物理分析(DPA)方法在航空工程中得到了广泛地应用,取得了很好的效果.作者认为根据我国国情,航空(重要)工程中也应大力推广DPA方法的应用.本文简要介绍了DPA方法,分析了
随着现代化社会的发展,国家为了快速提高生产力水平,让环境做出了一定的牺牲,环境污染问题日益严重.例如,一线城市挥之不去的雾霾天气、白色污染、水源污染等都十分严重.没有
我国经济实力的不断增强,建筑行业飞速发展,城市建设步伐越来越快,城市规划设计与建筑设计作为城市建设的重点,两者之间存在着紧密关系,要采取合理的措施处理两者之间的关系,提高城
改革开放以来,随着我国经济建设的不断深入壮大,各种矿物的消耗日益加深,需求量也越来越大,尤其是对铜、金、银等一些金属矿物的需求.面对现如今金属矿物大量短缺的情况,各种
本文介绍内部水汽含量分析在DPA工作中的重要作用,以及目前国内水汽含量的现状和存在的普遍问题,与封装工艺的相关性,进行工艺改进的措施.
鸡西矿业集团公司张辰煤矿西三采区3
期刊
随着科技的发展,人们的生活与以往大不相同,而这也直接导致了我国的工民建施工过程工艺日趋复杂.造成这些的因素有许多,例如人为环境以及设备的使用等等.而在这些施工工艺中,
本文介绍了采用常压方式外延的方法,在3英寸重掺砷衬底上生长出了电阻率>80Ωcm,厚度>30μm的高质量硅外延层,从而使器件获得较为理想的结果,顺利通过设计定型.
新农村景观是我国“三民”政策落实的重要内容之一,由于近年来我国的经济水平得到大幅度的提升,因此人们对生活质量的要求也随之变高,从而加快了新农村景观工程发展的进度,这使得
硅外延过程中常引入各种宏观和微观缺陷.本文以4英寸硅片为研究对象,探讨了外延层缺陷的形态、成因及其减少的方法.