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基于表面等离子体共振效应的金属薄膜参数测量技术

来源 :第十六届全国光学测试学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：liveonmountain

【作 者】

：

谷利元 曾爱军 胡国行 贺洪波 黄惠杰 

【机 构】

：

中国科学院上海光学精密机械研究所,上海201800;中国科学院大学,北京100049

【出 处】

：

第十六届全国光学测试学术交流会

【发表日期】

：

2016年9期

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