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氧化诱生缺陷引起的栅极漏电失效及其改善方法

来源 :第二十五届中国（天津）2011’IT、网络、信息技术、电子、仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户：simba_m

【作 者】

：

刘闯  董彬  于波 

【出 处】

：

第二十五届中国（天津）2011’IT、网络、信息技术、电子、仪器

【发表日期】

：

2011年09期

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