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本文介绍了关于ADC高速通用测试适配器的研究和实现，主要介绍了测试ADC芯片静态参数和动态参数两种方法，针对静态参数，提出了用伺服环的方法，采用高精度电压源，高精度电压表和数字比较器的测试原理;针对动态参数，提出了用DDS芯片AD9851产生高信噪比的正弦波，采用高速采样模块采集数据，最后用FFT算法对采集的数据进行处理。