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长积分双路进样(LIDI)方法及其在Clumped同位素测量中的应用
【出 处】
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中国地质学会同位素地质专业委员会成立三十周年暨同位素地质应用成果
【发表日期】
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2015年10期
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集成电路工艺水平的飞速发展使得芯片设计进入片上系统阶段。将一个完整的电子系统集成在单一硅片上就称之为片上系统(System On Chip，SoC)。相对于生产工艺的快速发展，SoC设计能力则远远落后，严重阻碍了SoC的发展。IP(Intellectual Property)复用能够很好的解决这一问题。SoC设计就是基于IP复用的设计方法，即通过把已有的IP按照一定的规范有机的集成在一起使之成为一
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