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以铟镓锌氧化物(IGZO)为有源层的薄膜晶体管由于其具有高的场效应迁移率、高的可见光透过率、大面积均匀性及与柔性衬底的兼容性而在研究和产业界倍受关注[1-4].大量研究结果表明其表面界面控制工程对IGZO薄膜晶体管的特性特别是稳定性起着关键性作用[5-7].本文将等离子表面处理技术应用到以IGZO作为有源层的薄膜晶体管中,研究其对IGZO薄膜晶体管性能的影响.