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大气气溶胶表征是大气领域中的重要研究内容,气溶胶粒子表面化学表征已成为其中最前沿的研究方面之一。开展气溶胶表面化学研究需要微观实验条件的支持,飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS)是近年来发展迅速的表面微区测试技术,相比于其他技术(如XPS、AES、SEM-EDX、EPMA 等),TOF-SIMS 具有灵敏度高(mg/kg～μg/kg)、质量分辨率高、采集质量宽(理论上无上限)、检出限低(可达109atom/cm2)、样品消耗量少(＜10-7g)、分析速度快等独特优势,能够实现在分子水平上气溶胶粒子表面化学组分检测,同时提供表层元素和分子组成信息,并进行有机和无机组分的检测。