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5. Characterization of a general optical retarder using Mueller matrix ellipsometer

Characterization of a general optical retarder using Mueller matrix ellipsometer

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：liongliong593

【作 者】

：

Honggang Gu Hao Jiang Xiuguo Chen Chuanwei Zhang Shiyuan Liu 

【机 构】

：

StateKeyLaboratoryofDigitalManufacturingEquipmentandTechnology,HuazhongUniversityofScienceandTechnol

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

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