2. 您的位置
3. 首页
4. 会议论文
5. 利用接触STM针尖探测重掺杂硅表面的低温电学输运性质

利用接触STM针尖探测重掺杂硅表面的低温电学输运性质

来源 :第十届全国扫描隧道显微学学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：bqayxgflx1

【作 者】

：

张撷秋 王克东 陈文锦 雷明德 王建农 肖旭东 

【出 处】

：

第十届全国扫描隧道显微学学术会议

【发表日期】

：

2008年11期

【关键词】

：

Schottky barrier Electrical transport Heavily doped Si STM 

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

新型电致变色材料的AFM研究

会议

原子力显微术电致变色轻敲/相位模式

毛细力诱导纳米颗粒在疏水聚合物衬底上高效率转印的研究

会议

有机磁性分子在graphene上的吸附和自组装研究

会议

CD-AFM在45nm半导体芯片检测过程中的应用

会议

原子力显微镜在嵌段共聚物薄膜研究中的应用

会议

Er硅化物纳米体系的结构和形状转变

会议

基于有机双层薄膜的高密度信息存储的研究

会议

原子力显微镜在高分子纤维表征方面的应用研究

会议

基于抗原抗体间识别作用的荧光共振能量转移的研究

会议

FITC-兔抗BSAAu-BSA荧光共振能量转移

硫醇自组膜吸脱附过程电化学扫描隧道显微镜研究

会议