【摘 要】
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随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求.比如在雷达、卫星通信、图像采集等应用领域中，很多ADC/DAC芯片的采样率都已经达到了GHz以上，这一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化.因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的
【出 处】
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中国集成电路设计业2016年会暨长沙集成电路产业创新发展高峰论坛
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随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求.比如在雷达、卫星通信、图像采集等应用领域中，很多ADC/DAC芯片的采样率都已经达到了GHz以上，这一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化.因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题.ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助大型机台，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标.是德科技提供全套的ADC/DAC测试方案，包括输入输出、供电时钟及软件计算.
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