X射线荧光光谱法测定硅石中化学成分

来源 :2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012) | 被引量 : 0次 | 上传用户:chenfj01
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  本文介绍了硅石的一种X射线荧光光谱分析方法。以无水四硼酸锂作为熔剂,采用熔融玻璃片法制样,建立了测定硅石材料中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P2O5和Fe2O3等组分X射线荧光光谱法(XRF)。通过试验确定最佳熔融和测定条件,根据硅石材料中主次成分含量范围,使用标准样品绘制校准曲线。并同化学结果或标样结果进行比对,从最终分析结果看,该方法简便、快速、准确度和精密度良好,完全可以用于硅石的化学成分分析。
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