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双向可控硅dv/dt、di/dt参数对可靠性的影响
【机 构】
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航空航天部半导体器件失效分析中心
【出 处】
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中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第五届学术年会
【发表日期】
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1990年期
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