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粉末X射线衍射仪填样深度效应的研究
粉末X射线衍射仪填样深度效应的研究
来源 :第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:livida
【摘 要】
:
本文对衍射几何分析、填样深度效应的实验研究和分析进行了介绍,指出通过对填样深度效应的理论分析和实验研究得出结论:对于吸收系数较大的金属及其合金样品,填样深度效应可以
【作 者】
:
程国峰
杨传铮
张健
【机 构】
:
中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海200050
【出 处】
:
第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
【发表日期】
:
2009年10期
【关键词】
:
衍射几何分析
填样深度效应
吸收系数
末X射线衍射
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本文对衍射几何分析、填样深度效应的实验研究和分析进行了介绍,指出通过对填样深度效应的理论分析和实验研究得出结论:对于吸收系数较大的金属及其合金样品,填样深度效应可以忽略,填样深度在0.2-0.5mm范围,足以满足无穷厚度要求。
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