【摘 要】
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为了降低模拟电路参数型故障的测试难度,研究了一种基于重叠正交变换(LOT)的模拟电路故障诊断方法。将测试响应经滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列计算故障子序列与正常子序列的互相关系数,对每一故障,可确定出互相关系数最小的子带,并将此数值作为该故障的特征,对应子带的正常响应序列的自相关系数作为无故障特征,用故障特征与正常特征的对比可诊断故障.对国际标准电路的实验表明,该方法可诊断模拟集成电路
【机 构】
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电子科技大学自动化工程学院,成都,610054
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为了降低模拟电路参数型故障的测试难度,研究了一种基于重叠正交变换(LOT)的模拟电路故障诊断方法。将测试响应经滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列计算故障子序列与正常子序列的互相关系数,对每一故障,可确定出互相关系数最小的子带,并将此数值作为该故障的特征,对应子带的正常响应序列的自相关系数作为无故障特征,用故障特征与正常特征的对比可诊断故障.对国际标准电路的实验表明,该方法可诊断模拟集成电路的参数型故障.
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