【摘 要】
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本文介绍根据X射线粉末衍射线形测定试样晶粒度和点阵畸变(应变)的主要方法,并以Co3O4纳米材料晶粒度和应变的测量加以说明。通过与扫描电镜观察的统计结果进行了比较,分析了
【机 构】
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北京凝聚态物理国家实验室,中国科学院物理研究所,北京,100190
【出 处】
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第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
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本文介绍根据X射线粉末衍射线形测定试样晶粒度和点阵畸变(应变)的主要方法,并以Co3O4纳米材料晶粒度和应变的测量加以说明。通过与扫描电镜观察的统计结果进行了比较,分析了各种方法计算晶粒尺寸的可靠性和适用性。
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