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本文介绍了一种利用超声SH导波反射系数重构平板表面缺陷形状的新方法.该方法基于导波的散射理论.首先,利用SH导波问题的Green函数,将反射波位移场表示为总位移场在缺陷边界上的积分形式;然后通过在边界积分式中引入Born假定和远端场假定;经过对频域中反射系数的Fourier变换,可将缺陷的深度表示为水平坐标的函数.本文给出了数值算例,并就不同模态、频率范围和缺陷类型等参数对该方法的成像精度之影响作了讨论.