2. 您的位置
3. 首页
4. 会议论文
5. Optical properties of MoS2 and WS2 ultrathin films investigated by spectroscopic ellipsometry

Optical properties of MoS2 and WS2 ultrathin films investigated by spectroscopic ellipsometry

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：sme_william

【作 者】

：

Dahai Li Rongjun Zhang Yuxiang Zheng Songyou Wang Liangyao Chen 

【机 构】

：

DepartmentofOpticalScienceandEngineering,FudanUniversity,Shanghai200433,China

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

苹果隐性损伤高光谱成像无损在线检测

会议

广义磁光椭偏测试技术及其在磁畴成像系统中的应用研究

会议

弹光调制技术及其应用研究新进展

会议

基于成像椭偏仪的薄膜缺陷检测方法研究

会议

Experimental study on transient dielectric response of metal thin films

会议

水体叶绿素与悬浮物双向偏振反射光谱耦合特性分析与PBRDF建模

会议

Study on size effect of nanometer scale Bi by spectroscopic ellipsometry

会议

基于Mueller矩阵分解的荒漠伪装网偏振特性分析

会议

基于偏振成像的潜指纹检测技术研究

会议

太阳磁场观测中的偏振成像测量技术

会议