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为了提高∑-△ADC调制器的可测试性和减小总的测试价格，本文提出了一种全数字的开关电容∑-△调制器可测性设计(DFT)方法。在测试模武下，通过复用被测∑-△调制器自身包含的一位反馈DAC，将其重新配置为三个输出级Vref+、Gnd和Vref-，由量化器数字输出与施加的数字激励之差决定该反馈DAC的输出，并通过数字激励及量化器数字输出测量被测∑-△调制器的性能。实验结果表明采用这种方法有效地测量ADC调制器的动态参数，包括信噪比(SNR)，动态范围(DR)等。