双波段芯片集成封装组件的低温光谱定量化

来源 :2016年全国光机电技术及系统学术会议暨中国光学学会光电技术专委会/中国仪器仪表学会光机电分会会员代表大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:rjviva
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  卫星在数据获取时,不可避免会受到诸多因素的影响,譬如大气、粒子反射、地形因素及几何配准等。这些会降低数据精度而无法达到高精度定量分析的要求。而客观准确、详细精确的探测、分析与预测,对组件光谱特性也就提出了更高要求。随着同一组件多芯片多波段的发展,受限于小F 数、视场等因素,芯片的中心距也越来越小。
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