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由于MCU芯片的结构非常复杂， 因此若在设计时采用一般ASIC设计的从结构出发的可测性设计技术（包括DFT和BIST）将使电路的规模大大增加。该文根据MCU具有指令系统的特点，从功能测试的角度出发，提出了一种在MCU设计中加入规模很小的模式选择电路， 对部分电路作较小改动，就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了可测性设计后进行了仿真。