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Advanced Nanotechnology Applications by Crosstalk Eliminated (XE) Atomic Force Microscope

来源 :第十一届全国扫描隧道显微学学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：userlyc

【作 者】

：

Kevin Ryang 

【机 构】

：

ParkSystemsCorp,KANC4F,Iui-Dong906-10,Suwon443-270,SouthKorea

【出 处】

：

第十一届全国扫描隧道显微学学术会议

【发表日期】

：

2010年11期

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