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该文介绍了一个自动测试生成软件ＡＴＣ采用的算法，数据结构，以及软件设计，ＡＴＧ软件采用了元件描述符形式的数据结构，该结构功能较强，便于程序设计，ＡＴＧ采用了两种测试生成算法，一种是流行的组合逻辑测试生成算法（隐含枚举测试生成算法），ＡＴＧ对之作了改进以便处理同步时序逻辑；另一种是测试代价指导的随机测试生成算法，该算法能处理异步时序电路。（本刊录）