高注量快中子辐照α-Al,2O,3退火行为研究

来源 :全国第七届正电子湮没学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zj149099548
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该文采用正电子湮没寿命谱测量技术研究了3×10<20>n/cm<2>注量快中子辐照后的α-Al<,2>O<,3> 中空洞尺度随退火温度的变化。实验结果表明,辐照的α-Al<,2>O<,3>中,从550℃开始出现空洞,空洞尺度随退火温度而增大,经1050℃退火后,形成1.1nm空洞。
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