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Fabrication and characterization of metal-semiconductor-metal ultraviolet photodetectors on Al-doped

来源 :第六届国际氧化锌及相关材料研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：xwxseven

【作 者】

：

J.Sun F.J.Liu H.Q.Huang J.W.Zhao Z.F.Hu X.Q.Zhang Y.S.Wang 

【机 构】

：

Key Laboratory of Luminescence and Optical Information,Ministry of Education,Institute of Opto-elect

【出 处】

：

第六届国际氧化锌及相关材料研讨会

【发表日期】

：

2010年4期

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