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本文研究了带状线测试高频聚合物薄膜微波介电特性的方法.通过测量样品的S参数和其3db带宽,由此确定样品的相对介电常数和损耗角正切,同时详细介绍了带状线谐振器的测试电路,以及影响测量精确度的关键因素.最后对几种薄膜样品进行了测试,计算结果表明了此种方法的实用性.
带状线法测试高频聚合物薄膜微波介电特性
【摘 要】
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本文研究了带状线测试高频聚合物薄膜微波介电特性的方法.通过测量样品的S参数和其3db带宽,由此确定样品的相对介电常数和损耗角正切,同时详细介绍了带状线谐振器的测试电路,以及影响测量精确度的关键因素.最后对几种薄膜样品进行了测试,计算结果表明了此种方法的实用性.
【机 构】
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上海大学理学院(上海)
【出 处】
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2003全国微波毫米波会议
【发表日期】
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2003年10期
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