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RAM测试在许多方面不同于传统的随机逻辑测试,RAM阵列故障可用步进测试算法或其它的线性测试算法检测,但这些测试算法不能检测CMOS地址译器中的某些开路故障.本文在分析CMOS RAM地址译码器开路缺陷的基础之上,提出了一种简单的地址译码器测试算法,在不降低测试效率的前提下,补充到步进测试算法或其它线性测试算法上,可有效地提高RAM测试故障被测度.