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农产品加工研究已成为与人民生活需求密切相关的重点研究项目.它对试材形态结构观察有独特的要求,既要求低放大倍数材料的结构组份观察,又要高倍数的细胞形态的研究.而光学显微镜和透射电子显微镜均不能同时满足二者的要求.本文应用新断面/SEM(扫描电子显微镜)方法,较容易而直观地得到农产品加工研究中试料的形态信息.