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晶体硅中的缺陷对电势诱导衰减(PID)的影响

来源 :第十三届全国太阳级硅及光伏发电研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：laobi87

【作 者】

：

余静文 

【机 构】

：

中节能太阳能股份有限公司科技研发中心

【出 处】

：

第十三届全国太阳级硅及光伏发电研讨会

【发表日期】

：

2017年期

【关键词】

：

晶体硅 缺陷 电势 诱导 衰减 PID 

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