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Scaling of the ductility with yield strength in nanostructured Cu/Cr multilayers

来源 :2011年材料表面与界面国际大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：tashon123

【作 者】

：

J.Y.Zhang X.Zhang G.Liu R.H.Wang J.Sun 

【机 构】

：

State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials,Xi'an Jiaotong University, Xi'an, 710049

【出 处】

：

2011年材料表面与界面国际大会

【发表日期】

：

2011年9期

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